検出試験は、被検査部品の表面と内部を前提として、損傷がないか、試験対象物の性能の使用に影響を与えない状態で、物質の音響、光学、磁気、電気的特性を利用するものです。検査対象の欠陥や不均一性の存在を検出するための検査手段の検査の品質。
- 溶接欠陥検出の範囲:
- 溶接表面の欠陥の検査。 溶接面に亀裂、未溶接、溶接漏れ、その他の溶接の問題がないか確認します。
- 内部空洞検査。 表面に亀裂、傷、クレーター、隆起、皮剥き、線引き、斑点、腐食、その他の欠陥がないか確認してください。
- 過剰検査。 製品の内部空洞に内部の切り粉、異物、その他の余分な材料が残っていないか確認してください。
- 状態チェック。 内視鏡検査で指定されたプロジェクトの技術要件に従って、一部の製品 (ウォーム ギア ポンプ、エンジンなど) が動作するとき。
- 検出方法:
1. 侵入検知PT
貫入試験は主に表面開口欠陥の非破壊試験に使用されます。 亀裂、折り目、空気穴、低温偏析、気孔など。 材料の構造や化学組成によって制限されません。 金属材料だけでなく、プラスチック、セラミックス、ガラスなどの非多孔質材料の検査も可能です。
透過率表示は直感的で判断しやすいです。 操作方法は速くて簡単です。 どの方向の欠陥も操作により検出できますが、いくつかの制限があります。 表面に開口部のある欠陥のみを検出でき、汚染物質によって塞がれた欠陥や、機械的処理 (研磨、研削など) 後に開口部が閉じられた欠陥は効果的に検出できません。 また、多孔質のルース素材や表面が粗いワークの検査にも適しません。 その開発者は、最適な観察時間 8-10 分間有効です。 また、一般に磁粉探傷と同時に使用することはできません。 磁性粉末によって適用される磁気サスペンションが欠陥の開口部をブロックします。 特別な要件の下では、最初に貫通探傷を実行し、次に磁粒子探傷を行うことができますが、検出率は非常に低く、実用的な意味はありません。
2. 磁粉検査MT
磁粒子探傷は、主に炭素鋼、合金構造用鋼、析出硬化鋼、電磁鋼の表面および表面近傍の欠陥を検出するために使用されます。 検査対象のワーク表面に不連続な磁気痕跡が蓄積されるため、不連続部の形状、位置、サイズを視覚化し、その性質を大まかに判断できます。 磁粉探傷の感度も非常に高く、検出可能な欠陥の幅は0.1μmに達し、数ミリメートル、場合によっては十数ミリメートルまで埋められた不連続性も検出できます。
磁粒子探傷は、検査対象の部品のサイズと形状に事実上制限がなく、さまざまな磁化技術を使用して各部品の欠陥を検査します。 そのプロセスは比較的単純で、検査速度が速く、コストが低いです。 ただし、アルミニウム、マグネシウム、銅などの非強磁性金属や、ゴム、プラスチック、ガラス、セラミックなどの非金属材料は検査できません。 オーステナイト系ステンレス鋼は検査できません。主に船体溶接部、ディーゼルエンジン部品、鍛造鋼材、鋳鋼部品の検査に使用されます。
磁粉検査は強磁性材料にのみ適用できます。 表面および表面近くの欠陥のみを検出できます。 亀裂を検出する強力な能力を持っています。
3. 超音波探傷
超音波探傷は産業界で広く使用されており、主に鍛造品、圧延部品、溶接品、鋳造品などに適用されます。 鉄、非鉄、非金属の材料や部品に適しています。
超音波は、亀裂、折り目、中間層、未溶接、未融着などの平面欠陥の検出に適しています。 超音波ビームが亀裂面に対して垂直である限り、高い欠陥エコーが得られます。 ただし、細孔やスラグなどの球状欠陥に対しては感度が低く、放射線も低いです。
4. 光線探傷
X 線探傷は、最も初期の最も一般的に使用されている非破壊検査方法の 1 つです。
この原理は、さまざまな程度に減衰させた後のX線の物体への透過に基づいて、物体内の欠陥を特定し、ネガ上にさまざまな黒さの画像を生成します。 欠陥画像は直観的であり、定性的および定量的に簡単に特定できます。 金属、非金属など様々な材質に対応可能です。
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